Metrologia tecnológica e regulamentação técnica

by Alexandre Vieira, Jofre Felix

Overview

A Série Universitária foi desenvolvida pelo Senac São Paulo com o intuito de preparar profissionais para o mercado de trabalho. Os títulos abrangem diversas áreas, abordando desde conhecimentos teóricos e práticos adequados às exigências profissionais até a formação ética e sólida. Metrologia tecnológica e regulamentação técnica traz uma visão ampla dos principais conceitos relacionados à área da metrologia industrial e científica, além de um panorama dos requisitos legais relacionados à regulamentação técnica no Brasil. O livro expõe exemplos aplicados a diversas áreas tecnológicas, de forma a apresentar ao leitor a abrangência e a riqueza técnica da metrologia, bem como sua importância como fator de competitividade para as empresas e mesmo para o país. Por fim, é dada uma visão de tendências tecnológicas e de como a metrologia está diretamente ligada à temática da Indústria 4.0.

Product Details

ISBN-13:	9788539636303
Publisher:	Editora Senac São Paulo
Publication date:	01/19/2023
Series:	Série Universitária
Sold by:	Bookwire
Format:	eBook
Pages:	88
File size:	5 MB
Language:	Portuguese

About the Author

Alexandre Vieira possui formação técnica em mecânica de precisão pela Escola Senai Suíço-Brasileira (2010), graduação tecnológica em automação industrial pela Faculdade de Tecnologia Senai - Mariano Ferraz (2013), mestrado em tecnologia nuclear, com ênfase em materiais pela Universidade de São Paulo (USP-2018). É aluno de doutorado da USP na área de materiais, desenvolvendo pesquisa em microfabricação com lasers de pulsos ultracurtos. Profissionalmente atuou como ferramenteiro na indústria metalúrgica, docente de cursos técnicos e de graduação na Escola Senai Suíço-Brasileira, e desenvolve projetos de produtos, inovação e consultorias para empresas no Instituto Senai de Inovação em manufatura avançada e microfabricação. Atualmente, atua como professor de ensino superior na Escola de Engenharia e Gestão (Eseg) e como coordenador de atividades técnicas dos cursos técnicos, de graduação e pós-graduação da Faculdade de Tecnologia Senai Suíço-Brasileira Paulo E. Tolle. Jofre Bezerra Felix possui formação técnica em mecatrônica pela Escola Senai Roberto Simonsen, graduação em tecnologia em mecânica de precisão pela Faculdade de Tecnologia Senai Suíço Brasileira Paulo Ernesto Tolle, pós-graduação em docência no ensino superior pela Faculdade Casa Branca. Atuou profissionalmente na área metalmecânica em indústrias do segmento de ferramental cirúrgico, estampos de corte, dobra e moldes termoplásticos, como docente, em cursos de nível técnico e superior no Senai-SP e como especialista em tecnologia no Instituto Senai de Inovação (ISI), executando serviços de medição avançada na área dimensional, bem como na prestação de serviços de auditoria em laboratórios de calibração acreditados pelo Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro). Atualmente, atua como coordenador de relacionamento com a indústria e é responsável pela interlocução consultiva de soluções tecnológicas e educacionais para a indústria paulista pela Escola Senai Suzana Dias, em Santana de Parnaíba-SP.

Table of Contents

Capítulo 1 – Conceitos fundamentais da metrologia 1 Conceitos da metrologia e o seu objetivo 2 Estrutura e os tipos de metrologia 3 Fundamentos da metrologia legal e científica Considerações finais Referências Capítulo 2 – Os organismos metrológicos 1 Instituições, organizações e organismos nacionais e internacionais de metrologia 2 Rede Brasileira de Calibração 3 Rede Brasileira de Laboratórios de Ensaios Considerações finais Referências Capítulo 3 – Estrutura e normalização 1 Regulamentação técnica metrológica 2 Exigências técnicas e legais obrigatórias 3 Modelo brasileiro de metrologia legal Considerações finais Referências Capítulo 4 – Os organismos metrológicos 1 Medidas, métodos e instrumentos de medição 2 Unidades de medida 3 Padrões de medida Considerações finais Referências Capítulo 5 – Gerenciamento metrológico I 1 Visão de incertezas e erros de medição 2 Fatores de confiabilidade metrológica 3 Sistemas de gerenciamento e calibração Considerações finais Referências Capítulo 6 – Gerenciamento metrológico II 1 Cadeia de rastreabilidade dos resultados de medições 2 Regulamentação técnica 3 Avaliação da conformidade Considerações finais Referências Capítulo 7 – A metrologia aplicada aos processos e aos produtos 1 Metrologia aplicada ao processo produtivo 2 Metrologia aplicada à prestação de serviços 3 Metrologia aplicada às medidas do produto Considerações finais Referência Capítulo 8 – Técnicas e tecnologias aplicadas ao ambiente metrológico 1 Integração da tecnologia da informação e comunicação (TIC) aplicada à metrologia 2 Os processos metrológicos de controle e monitoração que suportam a implantação e o desenvolvimento da indústria 4.0 3 A era da nanotecnologia e a nanometrologia Considerações finais Referências Sobre os autores